物联网应用技术实验室

中文

/

English

实验室概况

实验室新闻

论文汇报：Exploring Intrinsic Normal Prototypes within a Single Image for Universal Anomaly Detection

发表时间：2026-01-07 14:00作者：梁涛

附件下载(1)：
INP-Former.pdf

上一篇论文汇报：Accurate Anomaly Localization in Challenging Industrial Settings via a Hybrid Detection Framework

下一篇论文汇报：CLRerNet: Improving Confidence of Lane Detection with LaneIoU

文章分类：王晓栋老师组会

分享到：

联系地址：福建省厦门市集美区理工路600号联系电话：0592-6291390 0592-6291388 联系邮箱：xdwangjsj@xmut.edu.cn